本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。
本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。
全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。

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GB/T4960.6—2008 核科学技术术语 第6部分:核仪器仪表
GB/T10263—2006 核辐射探测器环境条件与试验方法
GB/T13178—2008 金硅面垒型探测器

GB 13140的本部分适用于作为独立单元的家用和类似用途的连接器件。这些连接器件的交流额定电压应不超过1000V，频率不大于1000Hz；直流额定电压应不超过1500V；在电气上应能连接两根或多根横截面积为0.2mm2~35mm2（含35mm2）或相应的AWG线规的硬铜导线（实心或绞合）或软铜导线。这些硬或软铜导线应符合GB/T 3956-2008或GB/T 18213-2000的要求。

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前言Ⅲ ＩＥＣ　前言Ⅴ １　范围１ ２　规范性引用文件１ ３　术语和定义２ ４　一般要求３ ５　试验中的一般说明３ ６　主要特性３ ７　分类４ ８　标志４ ９　防触电保护５ １０　导线的连接５ １１　结构５ １２　耐老化、防潮、防固体异物进入及防水的有害进入６ １３　绝缘电阻和电气强度７ １４　机械强度８ １５　温升９ １６　耐热１０ １７　电气间隙和爬电距离１１ １８　绝缘材料的耐非正常热和耐燃１１ １９　绝缘材料的耐电痕化１２ ２０　电磁兼容（ＥＭＣ）要求１２ 附录Ａ （资料性附录）　连接器件定义的示意图１４ 附录Ｂ （资料性附录）　导线的横截面积ｍｍ２ 与北美国家所用的ＡＷＧ 线规之间的大致关系１５

下列文件中的条款通过ＧＢ１３１４０ 的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
ＧＢ／Ｔ２４２３．８—１９９５　电工电子产品环境试验　第２部分：试验方法　试验Ｅａ：自由跌落
（ＩＥＣ６００６８-２-３２：１９９０，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ２４２３．５５—２００６　电工电子产品环境试验　第２部分：试验方法　试验Ｅｈ：锤击试验
（ＩＥＣ６００６８-２-７５：１９９７，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ３９５６—２００８　电缆的导体（ＩＥＣ６０２２８：２００４，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ４２０７—２００３　固体绝缘材料在潮湿条件下相比电痕化指数和耐电痕化指数的测定方法
（ｉｄｔＩＥＣ６０１１２：１９７９）
ＧＢ４２０８　外壳防护等级（ＩＰ代码）（ＧＢ４２０８—２００８ＩＥＣ６０５２９：２００１，ＩＤＴ ）
ＧＢ／Ｔ５１６９．１０—２００６　电工电子产品着火危险试验　第１０部分：灼热丝／热丝基本试验方法灼热装置和通用试验方法（ＩＥＣ６０６９５２１０：２０００，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ９７９７—２００５　金属覆盖层　镍＋铬和铜＋镍＋铬电镀层（ＩＳＯ１４５６：２００３，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ９７９９—１９９７　金属覆盖层　钢铁上的锌电镀层（ｅｑｖＩＳＯ２０８１：１９８６）
ＧＢ／Ｔ１２５９９—２００２　金属覆盖层　锡电镀层　技术规范和试验方法（ＩＳＯ２０９３：１９８６，ＭＯＤ）
ＧＢ／Ｔ１６８４２—２００８　外壳对人和设备的防护　检验用试具（ＩＥＣ６１０３２：１９９７，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ１８２１３—２０００　低频电缆和电线无镀层和有镀层铜导线电阻计算导则（ｉｄｔＩＥＣ６０３４４：１９８０）
ＩＥＣ６０６９５-１０-２ ：１９９５　着火危险试验　第１０部分：电子技术产品着火反常造成最小效应指南和
试验方法　第２节：使用球压试验的非金属材料耐热性试验方法