NF C96-022-30/A1-2011 半导体设备.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前对非密封表面安装器件的预处理
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时间:2024-05-02 15:37:33
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part30:preconditioningofnon-hermeticsurfacemountdevicespriortoreliabilitytesting.
【原文标准名称】:半导体设备.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前对非密封表面安装器件的预处理
【标准号】:NFC96-022-30/A1-2011
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2011-11-01
【实施或试行日期】:2011-11-26
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatic;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Preconditioning;Reliability;Reliabilitytesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:9P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体设备.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前对非密封表面安装器件的预处理
【标准号】:NFC96-022-30/A1-2011
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2011-11-01
【实施或试行日期】:2011-11-26
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatic;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Preconditioning;Reliability;Reliabilitytesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:9P;A4
【正文语种】:其他
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